今天是

网络课程

实验一 透射电镜的结构与组织观察

    1.JEM-2010型透射电子显微镜

    JEM-2010高分辨型透射电子显微镜,是日本电子公司的产品。它的主要性能指标是:晶格分辨率0.14nm;点分辨率0.23nm;最高加速电压200KV;放大倍数2,000~1,500,000;样品台种类有:单倾、双倾。JEM-2010还配有CCD相机,牛津公司的能谱仪(EDS),美国GATAN公司的能量损失谱仪(EELS)。

    可观察的试样种类:复型样品;金属薄膜、粉末试样;玻璃薄膜、粉末试样;陶瓷薄膜、粉末试样。

    主要功能:JEM-2010属于高分辨型透射电镜,可以进行高分辨图像观察,位错组态分析;第二相、析出相结构、形态、分布分析;晶体位向关系测定等。CCD相机可以实现透射电子图像的数字化。能谱仪及能量损失谱仪可以获得材料微区的成分信息。

    2.H-800型透射电子显微镜

    H-800透射电子显微镜,是日本日立公司的产品。它的主要性能指标是:晶格分辨率0.204nm;点分辨率0.45nm;放大倍数:1,000~600,000倍;电子束最高加速电压:200KV。它配有H-8010电子扫描系统;H-8020电子能量损失谱仪。

    主要功能:H-800型透射电子显微镜具有较高的分辨本领,能提供材料微观的组织结构信息;运用选区电子衍射,可同时获得与微观形貌相对应的晶体学特征。主要应用于金属及非金属等材料的微观组织与结构分析。还有SEM、STEM观察以及获得材料微区的成分信息。