1. JEM-2010型透射电子显微镜

JEM-2010高分辨型透射电子显微镜，是日本电子公司的产品。它的主要性能指标是：晶格分辨率0.14nm；点分辨率0.23nm；最高加速电压200KV；放大倍数2,000～1,500,000；样品台种类有：单倾、双倾。JEM-2010还配有CCD相机，牛津公司的能谱仪（EDS），美国GATAN公司的能量损失谱仪（EELS）。

可观察的试样种类：复型样品；金属薄膜、粉末试样；玻璃薄膜、粉末试样；陶瓷薄膜、粉末试样。

主要功能：JEM-2010属于高分辨型透射电镜，可以进行高分辨图像观察，位错组态分析；第二相、析出相结构、形态、分布分析；晶体位向关系测定等。CCD相机可以实现透射电子图像的数字化。能谱仪及能量损失谱仪可以获得材料微区的成分信息。

2. H-800型透射电子显微镜

H-800透射电子显微镜,是日本日立公司的产品。它的主要性能指标是：晶格分辨率0.204nm；点分辨率0.45nm;放大倍数：1,000～600,000倍；电子束最高加速电压：200KV。它配有H-8010电子扫描系统；H-8020电子能量损失谱仪。

主要功能：H-800型透射电子显微镜具有较高的分辨本领，能提供材料微观的组织结构信息；运用选区电子衍射，可同时获得与微观形貌相对应的晶体学特征。主要应用于金属及非金属等材料的微观组织与结构分析。还有SEM、STEM观察以及获得材料微区的成分信息。

3. FEI Talos F200X

FEI Talos F200X场发射透射电子显微镜融合了出色的高分辨率扫描/透射电子显微镜(STEM)和TEM成像功能与行业领先的能量色散X射线光谱仪(EDS)信号检测功能及基于成分测绘的三维化学表征功能。Talos F200X可在所有维度(1D-4D)下实现最快速、最精确的EDS分析，以及最好且支持快速导航的动态显微镜HRTEM成像。

样品台可倾转最大角度70度；恒功率模式的物镜保证成像的高稳定性；点分辨率可达0.3 nm，信息分辨极限可达0.15 nm。

Talos F200X场发射透射电镜的电子枪为肖特基热场发射超亮电子枪，STEM分辨率可以达到0.16nm。配备4个SDD探头的超级能谱集成到了透射电镜的极靴里面，对称地放在样品的上方，可以高效率探测到元素在一维，二维分布信息。该电镜可进行TEM模式下明场像、暗场像、选区电子衍射、高分辨像、能谱点分析；以及STEM的明场像、暗场像、成分线扫描和面分布。

4. FEI Titan ETEM

Titan ETEM是终极的原位高分辨率电子显微镜，可用于研究可变气压和温度条件下原子级化学反应的动态行为。物镜极片采用创新的E-cell技术，可在最多三个气体入口和最高2 kPa (20 mbar，15torr)的预设分压条件下执行原位S/TEM气体实验。此项独一无二的功能配以图像C_S校正器和FEI单色仪技术，可探索最高原子级纳米材料的形态、结构、成分和粘合的动态行为。

Titan ETEM配备了气体混合装置和质谱仪，可控制和确定样品的气体成分，完全掌控原位实验，获知显微镜内气体的详细信息。此外，内置的等离子清洗器可在涉及气体的实验做完之后清洗镜筒。Titan ETEM在非ETEM模式下拥有与未采用ETEM技术的Titan 80-300完全相同的横向S/TEM分辨率和能量分辨率。因此，它是一项灵活的工具，不仅专用于原位应用。该系统采取机械、电子和热量稳定性世界一流的模块化Titan技术，旨在确保TEM、STEM、能量过滤的TEM (EFTEM)、衍射和电子能量损失波谱(EELS)模式均具备卓越的性能。

主要功能：S/TEM内不同温度条件下动态研究原子级原位气体固态和气体液态反应；确定不同温度和气压条件下的纳米材料相位图；了解催颗粒在气体反应中的作用，提高催化颗粒质量，并使用质谱仪分析气体成分的变化；研究原子级原位相转移；合成新的纳米材料；启动化学反应并研究其原位行为；创造原位材料和纳米结构，探索新的纳米材料；在S/TEM检查期间使用气体分压最大化不稳定材料的使用寿命；利用Cs校正器技术和样品杆的双倾角功能提高原位实验的横向分辨率。