透射电子显微镜H-800 日本日立最高加速电压：200 KV；晶格分辨率：0.204 nm；
点分辨率：0.45 nm；放大倍数：1,000~600,000倍
JEM-2010日本电子公司最高加速电压：200 KV；晶格分辨率：0.14 nm；
点分辨率：0.23 nm；放大倍数：2,000~1,500,000倍
附件：主机JEM-2010配有EM-24011扫描图像观察装置
多扫描CCD相机
牛津公司X射线能谱仪（EDS）
美国GATAN公司的电子能量损失谱仪（PEELS）
电镜观察用铜网，微栅支持膜
样品：纤维、复合材料等
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