1 “清零”校正操作

执行清零操作（为了防止杂散阻抗影响测量精度，须进行开路/短路校正），用户可以使用以下两种清零方式的任意一种。

1.1扫频清零

a)按键[LCRZ]，再按软键更多1/3，测量设置，用户校正，极限设置，列表设置和更多2/3会显示在软键区域。

b)再按软键用户校正。仪器会显示为<用户校正>页面。

c)移动光标到开路区域。ON,OFF和开路校正会显示在软键区域。

d)保持测试夹具开路状态，按键开路校正执行开路校正，一直等到状态信息提示区域显示开路校正完成。

e)按键ON，打开仪器的开路校正功能。

f)把短路片（TH26010）插入测试夹具。

g)移动光标到短路区域。ON,OFF,和短路校正会显示在软键区域。

h)按键短路校正执行短路校正，一直等到状态信息提示区域显示短路校正完成。

i)按键ON打开仪器的短路校正功能

j)移动光标到负载区域，ON,OFF会显示在软键区域。

k)按键OFF,关闭仪器的负载校正功能。

l)移动光标到频率１区域。ON,OFF,开路校正，短路校正和负载校正会显示在软件区域。

m)按键OFF，关闭频率1的点频清零功能。

n)移动光标到频率2区域。ON , OFF,开路校正，短路校正和负载校正会显示在软键区域。

o)按键OFF, 关闭频率2的点频清零功能。

p)移动光标到频率3区域。ON , OFF,开路校正，短路校正和负载校正会显示在软键区域。

q)按键OFF, 关闭频率3的点频清零功能。

1.2点频清零（对于使用单个频率测试的情况比较好）

假设用户现在使用的测试频率为5.5kHZ。

a)按键[LCRZ]，再按软键更多1/3，测量设置，用户校正，极限设置，列表设置和更多2/3会显示在软键区域。

b)再按软键用户校正。仪器会显示为<用户校正>页面。

c)移动光标到开路区域。ON,OFF和开路校正会显示在软键区域。

d)按键ON，打开仪器的开路校正功能。

e)移动光标到短路区域。ON,OFF,和短路校正会显示在软键区域。

f)按键ON打开仪器的短路校正功能

g)移动光标到负载区域，ON,OFF会显示在软键区域。

h)按键OFF,关闭仪器的负载校正功能。

i)移动光标到频率１区域。ON,OFF,开路校正，短路校正和负载校正会显示在软件区域。

j)按键ON，打开频率1的点频清零功能。

k) 按键[5][.][5], +5.5会显示在屏幕下方的状态信息提示区域。并且软键区域会显示可用的单位（Hz，kHz, MHz）。按键kHz。则频率1区域会改为5.5000kHz（与测试频率相同）

l)保持测试夹具开路状态，按软键开路校正执行开路校正。

m)把短路片（TH26010）插入测试夹具。

n)按软键短路校正执行短路校正。

2用TH2818测试电感快速操作实例

测试条件如下：

功能: Ls-Q

频率：5.5kHz

电平：1.5Vrms

内阻：100Ω

步骤如下：

1．开机，参见“面板说明及入门操作”一章的开机小节。

2．基本参数测定。

a)按键[LCRZ],使TH2818显示到<元件测试显示>页面。

b)使用方向按键，移动光标到功能区域，当此区域显示为Cp-D，此时Cp-D,Cp-Q,Cp-G, Cp-Rp和更多1／6会显示在屏幕右方的软键区域。

c)按键更多1／6。Cs-D,Cs-Q,Cs-G, Cs-Rp和更多2／6会显示在屏幕右方的软键区域。

d)按键更多2／6。Lp-D,Lp-Q,Lp-G, Lp-Rp和更多3／6会显示

e)按键更多3／6。Ls-D,Ls-Q,Ls-G, Ls-Rp和更多2／6会显示

f)按键Ls-Q，选择Ls-Q功能。

g)移动光标到频率区域。当前此区域显示为1.0000kHz。

h)按键[5][.][5], +5.5会显示在屏幕下方的信息状态提示区域,并且软键区域会显示可用的单位（Hz，kHz, MHz）。按键kHz。则频率1区域会改为5.5000kHz.

i)移动光标到电平区域。当前此区域显示为1.000V。

j)按键[1][.][5]，+1.5会显示在屏幕下方的信息状态提示区域,并且软键区域会显示可用的单位（mV, V, uA, mA, A）。按键[Enter],则电平区域会改为1.5V。

k)按键[LCRZ],再按键更多1/3，到<测量显示>页面。

l)移动光标到内阻区域，此时100Ω和30Ω会显示在屏幕右方的软键区域

m)按键100Ω，选择100Ω信号源内阻。

3．把测试夹具（TH26005）安装到TH2818的测试端。

4．执行清零操作（为了防止杂散阻抗影响测量精度，须进行开路/短路校正），（参见本章6.1.2点频清零）

5．把被测电感插到测试夹具上。

6．执行测量操作按键[LCRZ],使TH2818显示到<元件测试显示>页面。仪器会连续测试并把测试结果用大字显示在页面中央。如下图：

7．如果发现测试结果明显不对，请：

a)检查被测电感是否与测试夹具可靠相连。

b)检查测试夹具是否与仪器的测试端可靠相连。

c)重新进行可靠的开路/短路校正。

%注意：当用户使用的是扫频开路/短路校正时，必须把点频校正功能选为OFF，参考本章‘清零校正操作’

3用TH2818作多频列表扫描测试电容快速操作实例

测试条件如下：功能：Cp-D

电平：1.0Vrms

其他参数如下表：

频率	比较参数	下限	上限
1kHz	Cp（容量）	325.0nF	333.0nF
10kHz	D（损耗）	0.0001	0.0003
100kHz	D（损耗）	0.0060	0.0100

讯响：HIGH（大声）

报警方式: OUT（超差时）

步骤如下：

1．开机。

2．基本参数测定。

a)按键[LCRZ],使TH2818显示到<元件测试显示>页面。

b)当前功能区域显示为Cp-D，电平区域显示为1.000V。此时测量显示，档号显示，档数计，列表扫描和更多1/3会显示在屏幕右方的软键区域。

c)按键更多1/3。测量设置，用户校正，极限设置，列表设置和更多2/3会显示。

d)按键列表设置。使TH2818显示到<列表扫描显示>页面。

e)移动光标到（扫描参数）区域。当前此区域显示为频率[Hz]。

f)按方向键，移动光标到扫描点1的参数区域，当前此区域显示为---。

g)按键[1]，+1会显示在屏幕下方的信息状态提示区域,并且软键区域会显示可用的单位（Hz，kHz, MHz）。按键kHz。则此区域会改为1.0000kHz.

h)移动光标到扫描点1的LMT区域，当前此区域显示为----。此时LIMIT DATE A，LIMAT DATE B和OFF会显示在软键区域。

i)按键LIMIT DATE A，选择比较主参数Cp功能，此时此区域会显示为A，并且光标自动移到扫描点1的下限区域。

j)按键[3][2][5]，+325会显示在屏幕下方的信息状态提示区域,并且软键区域会显示可用的单位（p，n, u, m,和更多1/2）。按键年n。则此区域会改为325.000n。并且光标自动移动到扫描点1的上限区域。

k)按键[3][3][3]，+333会显示在屏幕下方的信息状态提示区域,并且软键区域会显示可用的单位（p，n, u, m,和更多1/2）。按键年n。则此区域会改为333.000n。并且光标自动移动到扫描点2的参数区域。

l)按键[10]，+10会显示在屏幕下方的状态信息提示区域，并且软键区域会显示可用的单位（Hz，kHz, MHz）。按键kHz。则此区域会改为10.0000kHz.

m)移动光标到扫描点2的LMT区域，当前此区域显示为----。此时LIMIT DATE A，LIMAT DATE B和OFF会显示在软键区域。

n)按键LIMIT DATE B，选择比较副参数D功能，此时此区域会显示为B，并且光标自动移到扫描点2的下限区域。

o)按键0][.][0][0][0][1]，+0.0001会显示在屏幕下方的信息状态提示区域,并且软键区域会显示可用的单位（p，n, u, m,和更多1/2）。按键更多1/2。（k, M, *l和更多2/2）会显示。按键*l，则此区域会改为100.000u。并且光标自动移动到扫描点2的上限区域。

p)按键0][.][0][0][0][3]，+0.0003会显示在屏幕下方的信息状态提示区域,并且软键区域会显示可用的单位（k, M, *l和更多2/2）。按键*l，则此区域会改为300.000u。并且光标自动移动到扫描点3的参数区域。

q)按上述l—p的步骤依次输入第3个扫描点的100kHz , B，0.0060和0.0100。

3．报警设置

a)按键[SYSTEM]，使TH2818显示到系统设置页面。

b)移动光标到讯响区域。当前区域显示为LOW。此时OFF，LOW和HIGH会显示在软键区域。

c)按键HIGH，选择HIGH（大声）讯响功能。

d) 移动光标到报警方式区域。当前此区域显示为OUT。

4．把测试夹具TH26005安装到TH2818的测试端。

5．执行清零操作（为了防止杂散阻抗影响测量精度，须进行开路/短路校正），（参见1.1扫频清零）

6．把被测电容插到测试夹具上。

7．执行测量操作

按键[LCRZ],再按键列表扫描，使TH2818显示到<列表扫描显示>页面。仪器会连续测试并把测试结果和比较结果显示在页面上，并且当比较结果为H（上超）或L（下超）时发出讯响报警。

如果发现测试结果明显不对，请：

d)检查被测电容是否与测试夹具可靠相连。

e)检查测试夹具是否与仪器的测试端可靠相连。

f)重新进行可靠的开路/短路校正。

注意：当用户使用的是扫频开路/短路校正时，必须把点频校正功能选为OFF，参考本章‘清零校正操作’.